HY(IC)IC卡動態(tài)彎扭試驗機 |
技 術 參 數 |
配 置 |
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 完全符合以上標準。 外形尺寸:L670 X W380 X H220 儀器重量:70kg 電 壓:AC220V±5% 功 率:35W 測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz 測試周期:1~9999次 扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm 正反向各15°,總扭曲角度30° 長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm) 長邊小位移量為2mm±0.50mm, 短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm) 長邊小位移量為1mm±0.50mm, 夾具安裝尺寸完全按照國家標準執(zhí)行。
儀器加罩前的尺寸是: 長:74.5cm,寬:38cm 高:30cm 儀器加罩后的尺寸是: 長:78cm,寬:42.5cm 高:30cm |
1、 IC卡動態(tài)彎扭試驗機主機一臺; 2、配置: 1)常用調試工具一套: 2)臺灣STK交流調速電機系統(tǒng)一套; 3)臺灣衡翼高精度齒輪減速系統(tǒng)一套; 4)高精度光電計數器一套 4)臺灣衡翼高精度計數系統(tǒng)一套;
用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。 |