介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀實驗原理:
介電體(又稱電介質(zhì))基本的物理性質(zhì)是它的介電性,對介電性的研究不但在電介質(zhì)材料的應用上具有重要意義,而且也是了解電介質(zhì)的分子結構和激化機理的重要分析手段之一,探索高介電常數(shù)的電介質(zhì)材料,對電子工業(yè)元器件的小型化有著重要的意義。
介電常數(shù)(又稱電容率)是反映材料特性的重要參量,電介質(zhì)極化能力越強,其介電常數(shù)就越大。測量介電常數(shù)的方法很多,常用的有比較法,替代法,電橋法,諧振法,Q表法,直流測量法和微波測量法等。
各種方法各有特點和適用范圍,因而要根據(jù)材料的性能,樣品的形狀和尺寸大小及所需測量的頻率范圍等選擇適當?shù)臏y量方法。
高頻介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由916測試裝置(夾具)、GDAT型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成,它依據(jù)國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。
系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。
介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗因數(shù)正切值測試儀工作特性
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023;
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
c.標稱誤差
|
A |
C |
頻率范圍 |
25kHz~10MHz |
100kHz~10MHz |
固有誤差 |
≤5%±滿度值的2% |
≤5%±滿度值的2% |
工作誤差 |
≤7%±滿度值的2% |
≤7%±滿度值的2% |
頻率范圍 |
10MHz~60MHz |
10MHz~160MHz |
固有誤差 |
≤6%±滿度值的2% |
≤6%±滿度值的2% |
工作誤差 |
≤8%±滿度值的2% |
≤8%±滿度值的2% |
2.電感測量范圍
A |
C |
14.5nH~8.14H |
4.5nH~140mH |
3.電容測量
|
A |
C |
直接測量范圍 |
1~460p |
1~205p |
主電容調(diào)節(jié)范圍 |
40~500pF |
18~220pF |
準確度 |
150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1% |
150pF以下±1.5pF 150pF以上±1% |
注:大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。
4.信號源頻率覆蓋范圍
|
A |
C |
頻率范圍 |
10kHz~60MHz |
0.1~160MHz |
CH1 |
10~99.9999kHz |
0.1~0.999999MHz |
CH2 |
100~999.999kHz |
1~9.99999MHz |
CH3 |
1~9.99999MHz |
10~99.9999MHz |
CH4 |
10~60MHz |
100~160MHz |
頻率指示誤差 |
3×10-5±1個字 |
5.Q合格指示預置功能:預置范圍:5~1000
6.Q表正常工作條件
a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c.外型尺寸:(寬×高×深)mm:380×132×280。
附表一,介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)主要性能參數(shù)一覽表
BH916測試裝置
GDAT高頻Q表
平板電容極片
Φ50mm/Φ38mm可選
頻率范圍
20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調(diào)范圍
≥15mm
頻率指示誤差
3×10-5±1個字
夾具插頭間距
25mm±0.01mm
主電容調(diào)節(jié)范圍
30-500/18-220pF
測微桿分辨率
0.001mm
主調(diào)電容誤差
<1%或1pF
夾具損耗角正切值
≦4×10-4 (1MHz)
Q測試范圍
2~1023
附表二,LKI-1電感組典型測試數(shù)據(jù)
線圈號
測試頻率
Q值
分布電容p
電感值
9
100KHz
98
9.4
25mH
8
400KHz
138
11.4
4.87mH
7
400KHz
202
16
0.99mH
6
1MHz
196
13
252μH
5
2MHz
198
8.7
49.8μH
4
4.5MHz
231
7
10μH
3
12MHz
193
6.9
2.49μH
2
12MHz
229
6.4
0.508μH
1
25MHz
233
0.9
0.125μH
50MHz
211